Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Skomputeryzowane systemy do pomiarów i oceny zarysów kształtu / Stanisław Adamczak, Dariusz Janecki.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: ArtykułArtykuł W: Kielecki Festiwal Nauki 2 ; 2001 II Kielecki Festiwal Nauki, 07-16 września 2001 r. : prezentacje festiwalowe. Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świetokrzyskiej, 2002
Brak egzemplarzy dla tego rekordu

Tytuł nagłówkowy.

Działa dzięki Koha